華測高溫介電溫譜測試系統研發成功上市 三年質保
高溫介電溫譜測試系統運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數的準確度,同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
搭配Labview系統開發的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的**;資料保存機制,當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數據,設備重新啟動后可恢復原有試驗數據。
目前電網中大量使用變頻器等高頻、高功率設備,將對電網造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數分析技術,實現了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.
儀器優勢:
1、它可以勻速、階梯(升\降溫)、循環沖擊,真空、氣氛等多種的加熱方式。
2、采用***移相觸發技術,完全可實現控制精度波動±0.25°c 以內,溫控精度更高。
3、加熱速度更快、更快,同時它可以提供了材料的更多的測試環境。
設備優勢
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統,增設氣體冷卻裝置,可實現快速冷卻。
2、溫度高精度控制
近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫(高純度惰性氣體 靜態或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
設備測量參數
溫度范圍: RT-800 (*高1650)°C
樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
控溫精度:±0.25°C
電極材料:鉑金
升溫斜率:10°C/min(可設定)
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
測試頻率 : 10Hz~120MHz
絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
加熱方式:近紅外加熱
測試功能:介電溫譜、頻譜
冷卻方式:水冷
數據傳輸:4個USB接口
輸入電壓:110~220V
設備尺寸:600x500x350mm
ε介電常數、(ε'、ε''介電常數實部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實部與虛部)、
Y導納、Y’、Y''(導納實部與虛部)、X電抗、Q品質因數、cole-cole圖譜、機電耦合系數Kp、等一系列測量參數及介電溫譜與頻譜等測試功能。