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憶阻器基礎研究測試方案
日期：2024-08-24 10:16
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摘要：
憶阻器基礎研究測試方案
高性價比測試方案
極端化表征測試方案
（二）憶阻器性能研究測試
憶阻器性能研究測試流程如下：
非易失存儲器性能研究是通過測試憶阻器的循環次數或耐久力（Endurance）和數據保留時間（Data Retention）來實現。在循環次數和耐久力測試中，電阻測試通常由帶脈沖功能的半導體參數測試儀完成，由于被測樣品數量多，耗時長，需要編程進行自動化測試。極端化表征情況下，SET/ RESET 脈沖由高速任意波發生器產生。
如果憶阻...
憶阻器基礎研究測試方案
高性價比測試方案
極端化表征測試方案
（二）憶阻器性能研究測試
憶阻器性能研究測試流程如下：
非易失存儲器性能研究是通過測試憶阻器的循環次數或耐久力（Endurance）和數據保留時間（Data Retention）來實現。在循環次數和耐久力測試中，電阻測試通常由帶脈沖功能的半導體參數測試儀完成，由于被測樣品數量多，耗時長，需要編程進行自動化測試。極端化表征情況下，SET/ RESET 脈沖由高速任意波發生器產生。
如果憶阻器被用于神經元方面的研究，其性能測試除了擦寫次數和數據保留時間外，還需要進行神經突觸阻變動力學測試。突觸可塑性是大腦記憶和學習的神經生物學基礎，有很多種形式。按記憶的時間長短可分為短時程可塑性 (STP)和長時程可塑性 (LTP)，其中短時程可塑性包括雙脈沖抑制 (PPD)、雙脈沖易化 (PPF)、強直后增強 (PTP)。此外還有一些其他的可塑性, 如: 放電速率依賴可塑性 (SRDP)、放電時間依賴可塑性 (STDP)等，它們是突觸進行神經信號處理、神經計算的基礎。
憶阻器的導電態可以用來表示突觸權重的變化，通過改變刺激脈沖電壓的形狀、頻率、持續時間等參數來模擬不同突觸功能相應的神經刺激信號的特點，測量瞬態電流可以了解阻變動力學過程，獲得神經形態特性的調控方法。同循環次數和耐久力測試相同，需要對帶脈沖功能的半導體參數測試儀或高速任意波發生器編程產生相應的脈沖序列，進行自動化測試。
憶阻器性能研究測試方案
