高溫四探針測試儀
一、高溫四探針測試儀產品簡介
H-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精度，也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。HGTZ-800系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
二、高溫四探針測試儀產品特點
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。
溫度高精度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度（遠比普通加溫方式）。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
不同環境下的加熱與冷卻加熱/冷卻
可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體，靜態或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
三、高溫四探針測試儀產品應用
多晶硅材料
石墨烯材料
石墨功能材料
半導體材料
導電功能薄膜材料
鍺類功能材料
導電玻璃（ito)材料
柔性透明導電薄膜
其它導電材料等
四、高溫四探針測試儀功能特點
多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現、高溫、真空、氣氛環境下進行測試
采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度，
可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；
可實現常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測量功能；
溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度更精準；
儀器可自動計算試樣的電阻率pV；
10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩定、可靠；
程控電子升壓技術，紋波低、TVS防護系統，保證儀器an全性；
99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
Ihuace pro強大的控制分析軟件。
整體為桌面型設計，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結構，滿足實驗室無灰塵排放的要求。
內置工控機、觸摸屏，可以利用工控機設定加熱曲線，并實現和其他測試設備的集成控制。
定點控溫模式下，可以將樣品10s內加熱到1000攝氏度。
控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
在1000度下可以連續工作時間不低于1小時。
采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。
樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。
配備真空泵，水冷設備，配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
溫度均勻區：60mm*100mm。
硬件配置
集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
集成打機印接口，zui大可擴充8個USB接口
zui大支持16G內存，60G固態硬盤，讓系統運行流暢
軟件功能
Hc5000系列測試系統的軟件平臺hacepro，采用labview系統開發，符合高分子材料性能的各項測試需求，具備強大的的穩定性與an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復。兼容，XP、win7、win10系統。
多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
即時監控：系統測試狀態即時瀏覽，無須等待；
圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，立即對狀態說明，了解測試狀態；
使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
技術指標
溫度范圍：室溫-1200℃，（反射爐加溫）配水冷機）；
控溫精度：±0.5℃；
測量精度：±0.25℃；
升溫斜率：800℃/min（zui快可10秒達800度）；
降溫斜率：1-200℃/min（可自調整）；
測量精度：0.5%；
樣品規格：直徑：20mm以內；厚度：5mm以內；
電極材料：鉑金；
測量方式：2線-4線測量方式；
供電：220V±10%，50Hz；
工作環境：0℃-55℃；
存儲條件：-40℃-70℃；
尺寸：750mmX660mmX360mm；
重量：25kg
