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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:高溫四探針 測試儀

  • 產(chǎn)品型號:HCTZ-800
  • 產(chǎn)品廠商:華測
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
HCTZ-300 型四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn),專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。 儀器采用了新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
詳情介紹:


高低溫四探針測試系統(tǒng)



一、高溫四探針儀器簡介:

    HCTZ-300 型四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

   儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。

儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

  本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。





儀器優(yōu)點(diǎn);

偏差1/60,抗干擾性能提高300


16mm 大口徑三軸連接器 電流輸入端口采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至 GUARD(COM) 線,外部屏蔽連接至 GROUND 3 層同軸設(shè)計(jì)。 兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時的**性。


 HC浮動電路與三軸連接器組合使用可有效增強(qiáng)對電源干擾或外來干擾的穩(wěn)定性(重復(fù)精度)大幅提升。普通的使用環(huán)境的偏差為0.007%(代表值)與以往機(jī)型相比減少至1/60,在摻雜50V突發(fā)干擾的條件下減少至1/300



技術(shù)參數(shù)如下:

測量范圍

電阻率:10-5105 ?.cm(可擴(kuò)展)

方塊電阻:10-4106 ?/(可擴(kuò)展)

電導(dǎo)率:10-5105 s/cm

電阻:10-5105 ?;

可測晶片直徑

140mmX150mm( S-2A 型測試臺)

200mmX200mm( S-2B 型測試臺)

400mmX500mm( S-2C 型測試臺)

恒流源

電流量程分為 1μA10μA100μA1mA10mA100mA 六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

 

量程及表示形式 000.00199.99 mV

分辨率:10μV

輸入阻抗>1000M?;

精度:±0.1%

顯示:液晶屏;極性、超量程自動顯示;

四探針探頭基本指標(biāo)

間距:1±0.01mm

針間絕緣電阻:≥1000M?;

機(jī)械游移率:≤0.3%;

探針:碳化鎢或高速鋼 Ф0.5mm

探針壓力:516 牛頓(總力)

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

(見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差

( JJG508-87 進(jìn)行)

 

0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?≤0.3%±1

整機(jī)測量*大相對誤差

(用硅標(biāo)樣片:0.01-180?.cm 測試) ≤±5

整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

3

測試模式

可連接電腦測試也可不連接電腦測試。

軟件功能(選配)

軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測試數(shù)據(jù)*大值、 *小值、平均值、*大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測試數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動測量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動選擇適合電流量程檔測試

計(jì)算機(jī)通訊接口

并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時采集數(shù)據(jù)到電腦的時間只需要 1.5

秒(在 10uA,0.1mA1mA10mA100mA 量程檔時)。

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

溫度:23±2℃;

相對濕度:≤65%;

無高頻干擾;

無強(qiáng)光直射;




  二、HCTZ-300 型四探針軟件測試系統(tǒng)

HCTZ-300 型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。






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